金融界2024年9月30日消息，国家知识产权局信息显示，无锡芯灵微电子有限公司申请一项名为“一种基于数据分析的芯片批量自动化测试系统”的专利，公开号 CN 118707302 A，申请日期为 2024 年 8 月。
专利摘要显示，本发明涉及芯片批量检测技术领域，具体为一种基于数据分析的芯片批量自动化测试系统，包括操作台，操作台的顶部通过轴承活动连接有环形转盘，操作台的侧壁通过螺栓固定连接有多组机架一和多组机架二，机架一的顶部对称固定连接有滑轨一，两个滑轨一之间设置有滑板一，滑板一的两端均滑动连接在对应设置的滑轨一内，滑板一的底部对称固定连接有电动推杆一，电动推杆一的底端固定连接有横板，横板的顶部设置有分合料组件，分合料组件包括推板，推板设置在横板的顶部，横板的侧壁固定连接有托板，本发明与现有技术相比较，是通过对芯片间距进行提前扩大，以消除测试设备与相邻芯片引脚接触影响检测结构的问题。
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